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硬件在环仿真(HIL):NI领先汽车测试关键之匙

导读: 美国国家仪器有限公司(National Instruments, 简称NI)于近日参加了在上海光大会展中心举办的2015年汽车测试及质量监控博览会。在此次博览会上,NI联合多家业内合作伙伴,集中展示了NI为汽车行业提供的灵活开放式的测试平台与多样化的解决方案。

  美国国家仪器有限公司(National Instruments, 简称NI)于近日参加了在上海光大会展中心举办的2015年汽车测试及质量监控博览会。在此次博览会上,NI联合多家业内合作伙伴,集中展示了NI为汽车行业提供的灵活开放式的测试平台与多样化的解决方案。

  2015年是汽车测试及质量监控博览会举办的第十个年头,它已确立为向中国汽车工业展示确保质量、可靠性、耐久性和安全性的各种技术与服务的行业内头号展会。会上逾280家公司展示了自己的新产品,具体领域包括:发动机/排气测试;车辆动力学测试;材料测试以及碰撞测试等。NI也借助此次盛会向企业及大众展示了NI在汽车行业的技术优势与优质解决方案。

  据了解,现今几乎所有的汽车OEM与一级供应商在各类测试应用中均有使用或集成了NI产品。通过为控制、设计和测试提供通用平台,NI 帮助用户节省了在汽车研发到生产各个阶段耗费的成本和时间。凭借业内领先的I/O、灵活现成的硬件、强大高效的LabVIEW开发环境,用户可以创建适合各种应用的解决方案。目前NI的产品在汽车行业涉及了车载测试和数据记录、硬件在环仿真、台架测试与控制、快速控制原型、生产线测试、车载信息娱乐系统测试等几大应用。

  此次博览会上,NI着重展示了其业内权威的硬件在环仿真(HIL)技术方面的应用。NI通过其创新的低成本模块化硬件和软件平台帮助工程师和科学家设计并建立自己的HIL系统。硬件在环HIL仿真技术可以使用NI PXI实时控制器运行仿真模型来模拟受控对象的运行状态,配合NI FPGA模块可适应更高动态特性及更高精度的模型应用需求。NI硬件在环测试平台具有开放的软硬件技术架构,可以减少工程师的开发时间、成本和风险。在支持第三方硬件和软件建模工具的同时,NI还提供一系列高性能模拟和数字I/O设备, CAN、LIN和FlexRay总线接口,故障注入硬件等硬件,让客户可以高效实现应用。基于开放的工业标准,用户总能将最新的PC技术用在自己的HIL测试系统中。同时,HIL测试系统的可扩展性满足了多种快速变化的需求,以适应新技术发展所带来的测试挑战,例如目前新能源汽车及ADAS等。

  此次联合参展的恒润科技是NI业内众多合作伙伴之一。他们开发的发动机控制器(EMS)硬件回路(HIL)测试系统便是基于灵活开放的NI软硬件设备。EMS HIL测试系统搭建了一个完整的“虚拟车辆”测试环境,能够在研发过程中对EMS进行验证,并且利用NI TestStand软件实现EMS的自动化测试。这套测试系统得益于NI硬件平台的开放性与稳定性以及VeriStand、TestStand软件系统的灵活性,缩短了产品开发周期,并在研发流程中可以对EMS的功能进行全面的测试和验证。除此之外,该系统广泛应用于汽车行业众多整车厂、零部件商的车型和产品研发过程。

  NI多年来在汽车领域一直致力于研发灵活、高性能的产品,其开放式平台可以涵盖从原型搭建到生产测试的整个流程。中国目前已经成为全球最大的汽车市场,同时对于国际主要的汽车电子产品供应商来说,中国也都是他们的主要研发生产基地。汽车行业已经成为NI中国的重要客户市场之一。NI对中国的汽车电子行业市场充满信心,会继续针对业内用户的需求和应用方向,提供更加完善和最具前沿技术的解决方案。

 

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